JAPAN Eyewear EXPO ｜ニデック

JAPAN Eyewear EXPO

会期：2026年10月7日（水）～8日（木）
開催場所：東京都立産業貿易センター　浜松町館　ブースNo.3-35

10月7日（水）から東京都立産業貿易センター　浜松町館で開催される「JAPAN Eyewear EXPO　日本国際眼鏡展［JEX］-Beginning-」に、当社も出展いたします。

展示会概要

会期	2026年10月7日（水）～8日（木）
会場	東京都立産業貿易センター　浜松町館　ブースNo.3-35

初開催となるJAPAN Eyewear EXPO 日本国際眼鏡展［JEX］-Beginning-に、当社も出展いたします。
近日発売予定のオートレンズメータ「LM-1」、新製品のインテリジェントブロッカー「ICE-2」、
話題のマルチファンクションエッジャー「ME-1」、オープンフィールドレフラクションシステム「PHANTOM™」^＊をはじめ、
検査機器からレンズ加工機まで幅広いラインアップを展示いたします。
ニデック一押しの豊富な製品ラインアップを取りそろえ、皆様のご来場を心よりお待ち申し上げております。

＊販売名：オープンフィールドレフラクションシステム　PHANTOM
　届出番号：23B1X00023000206

ニデックブース来場事前登録

下記リンクより事前登録のうえニデックブースへお立ち寄りいただいたお客様へ記念品をご用意しております。
ぜひ事前登録のうえ、ご来場ください。

ニデックブース来場事前登録はこちら

※事前登録締切：2026年9月30日（水）
※記念品は、各展示会につき1店舗様1点までの進呈とさせていただきます

展示製品

【視力測定関連製品】

・オートレンズメータ LM-1
・オープンフィールドレフラクションシステム PHANTOM™（販売名：オープンフィールドレフラクションシステム　PHANTOM/届出番号：23B1X00023000206）
・自動検眼システム AOS-6100／TS-610（販売名：レフラクタ　RT-6100/届出番号：23B1X00023000180）
・フルアシストシステムキット（TS-610オプション）
・システムチャート SC-1600 Pola™（販売名：システムチャート　SC-1600/届出番号：23B1X00023000134）
・スペースセイビングチャート SSC-370S（販売名：スペースセイビングチャート　SSC-370/届出番号：23B1X00023000142）
・角膜形状／屈折力解析装置 OPD-Scan®lll VS（販売名：角膜形状/屈折力解析装置　OPD-Scan III/届出番号：23B1X00023000135）
・オートレフラクトメータ AR-F（販売名：オートレフラクトメータ　AR-F/届出番号：23B1X00023000178）
・オートレフラクトメータ AR-1s（販売名：オートレフラクトメータ　AR-1s/届出番号：23B1X00023000154）

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